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村田 勲; 新藤 隆一; 塩沢 周策
Journal of Nuclear Science and Technology, 32(10), p.971 - 980, 1995/10
被引用回数:2 パーセンタイル:28.04(Nuclear Science & Technology)厚く複雑な体系をモンテカルロコードにより遮へい解析する場合、精度の高い解を得るためにはかなりの計算時間を必要とする。本研究では、インポータンスサンプリング法を用い、厚く複雑な体系の遮へい計算を実施する場合に重要となる、インポータンス分布を設定する方法を開発した。この方法では、2つの最適インポータンス曲線を用いることにより厚く複雑な体系のインポータンスを簡単に決定することができる。本手法は簡単なベンチマーク計算によりその妥当性を検証した。また、複雑な構造を持つ実体系の解析を実施することによりその応用性を確認した。